X光鍍層測厚儀是一種利用X射線穿透材料并激發(fā)熒光的原理,通過分析熒光強(qiáng)度來測量鍍層厚度的儀器。其檢測范圍廣泛,以下是其可檢測的典型范圍及應(yīng)用場景:
1.金屬鍍層
常見金屬:金(Au)、銀(Ag)、銅(Cu)、鎳(Ni)、鉻(Cr)、錫(Sn)、鋅(Zn)、鐵(Fe)等。
合金鍍層:如鎳磷合金、錫鉍合金等。
多層鍍層:可同時測量多層結(jié)構(gòu),并分別給出每層厚度。
2.非金屬鍍層
塑料、橡膠、油漆等有機(jī)涂層(需配合特定校準(zhǔn))。
部分無機(jī)涂層(如陶瓷、玻璃鍍層)。
二、X光鍍層測厚儀可檢測的基材類型
1.金屬基材
鋼鐵、鋁合金、銅合金、鋅合金、鈦合金等。
支持復(fù)雜形狀基材(如曲面、凹凸面、微小零件),但需注意測試點的有效面積。
2.非金屬基材
塑料、橡膠、木材、玻璃等(需選擇適合的X射線管電壓和校準(zhǔn)方法)。
三、厚度檢測范圍
1.常規(guī)范圍
最小厚度:通??蓹z測到0.01微米(10納米)級別,適用于超薄鍍層(如半導(dǎo)體芯片上的鍍金層)。
最大厚度:一般可達(dá)幾十微米至數(shù)百微米,具體上限取決于鍍層材料和儀器型號。
2.多層鍍層分析
可測量最多3~5層的多層結(jié)構(gòu),每層厚度需在儀器靈敏度范圍內(nèi)。
例如:鋼鐵基材上的Ni/Cu/Au三層鍍層。
四、X光鍍層測厚儀元素檢測范圍
1.原子序數(shù)范圍
通??蓹z測原子序數(shù)≥3(鋰)的元素,但實際檢測下限受儀器配置影響。
輕元素(如Al、Mg):需配備低能量X射線源或真空環(huán)境。
重元素(如Au、Pb):檢測靈敏度更高。
2.濃度范圍
鍍層中元素濃度可檢測至ppm(百萬分之一)級,適用于微量元素分析。
