總所周知:X射線鍍層測厚儀是控制和保證產(chǎn)品質(zhì)量*的檢測儀器，在制造業(yè)、金屬加工業(yè)、化工業(yè)、商檢等檢測領域有著廣泛運用。
由于X射線鍍層測厚儀采用的是磁感應測厚原理，因此必須嚴格避免強磁場干擾，避免沾染油污、重塵、潮濕等，不要重撞和摔壞儀器。
為防止電池漏液，X射線鍍層測厚儀長期不使用時應取出電池。當儀器出現(xiàn)低電壓提示時應更換電池，更換電池時請注意極性。請使用正規(guī)廠家生產(chǎn)的電池，可以避免因電池漏液而導致機器故障。
1.基體金屬特性
對于磁性方法，標準片的基體金屬的磁性和表面粗糙度，應當與試件基體金屬的磁性和表面粗糙度相似。
對于渦流方法，標準片基體金屬的電性質(zhì)，應當與試件基體金屬的電性質(zhì)相似。
2.基體金屬厚度
檢查基體金屬厚度是否超過臨界厚度，如果沒有，可采用方法進行校準。
3.表面清潔度
測量前，應清除表面上的任何附著物質(zhì)，如塵土、油脂及腐蝕產(chǎn)物等，但不要除去任何覆蓋層物質(zhì)。
4.邊緣效應
不應在緊靠試件的突變處，如邊緣、洞和內(nèi)轉角等處進行測量。
5.曲率
不應在試件的彎曲表面上測量。
6.讀數(shù)次數(shù)
通常由于X射線鍍層測厚儀的每次讀數(shù)并不*相同，因此必須在每一測量面積內(nèi)取幾個讀數(shù)。覆蓋層厚度的局部差異，也要求在任一給定的面積內(nèi)進行多次測量，表面粗造時更應如此。
